介電常數(shù)儀（電容率）LDJD-A

介電常數(shù)儀（電容率）用于測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)。

(IEC 60250:1969，MOD)

本儀器適用于在10kHz～70MHz頻率范圍內(nèi)測量電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)，并由此計(jì)算某些數(shù)值，如損耗指數(shù)。如需其他頻率范圍，請聯(lián)系北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司，有以下備選型號(hào)：

LDJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  10kHz～70MHz

LDJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  10kHz～110MHz

LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  100kHz～160MHz

主要參數(shù)：

1.QBG-3E（改進(jìn)型）高頻Q表：

信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào)：10kHz-70MHz

 Q測量范圍：1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

 電容直接測量范圍：1pF～2.5uF

Q值測量范圍：1～1000自動(dòng)/手動(dòng)量程；Q值分辨率0.1，4位有效數(shù)字；Q值測量工作誤差＜5%；

Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

電感測量范圍：1nH～8.4H，分辨率0.1nH，測量誤差＜3%，帶自身殘余電感和測試引線電感的自動(dòng)扣除功能；

 2.S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一） 

液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

3. LKI-1電感組

• 產(chǎn)品特點(diǎn)

LDJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號(hào)源，頻率范圍達(dá)10kHZ-70MHZ，信號(hào)源具有信號(hào)失真小、頻率精確、信號(hào)幅度穩(wěn)定的優(yōu)點(diǎn)，更保證了測量精度的精確性。LDJD-A主電容調(diào)節(jié)用傳感器感應(yīng)，電容讀數(shù)精確,且頻率值可設(shè)置。